検査専門委員会主催 技術講演会 用〜装置技術への拡大」

「 車載向け半導体デバイス信頼性の基礎 」

    SEAJ検査専門委員会は、車載デバイスのテスト技術に関する課題の抽出を行い、「CASE(ケース)」*1と名づけられたた自動車業界の中長期戦略を通して、Connected(コネクテッド)Autonomous(自動運転)Shared&Services(シェアリング)Electric(電動化)といった流れに向けた新しい代表的なデバイスの方向性と技術動向に触れながら、半導体産業に向けられた要請や、対応に向けた課題について収集・議論しております。
 また、そういった技術・市場動向に関する講演会を通じて、会員企業の皆様にも最新の情報の収集・議論する場を提供しています。
 今回は、「 車載向け半導体デバイス信頼性の基礎 」につきまして、九州産業大学  理工学部 電気工学科 教授 村上 英一 様をお招きし、ご講演いただくことになりました。
 
 ご関係者はもちろん、周りにご興味のある方がいらっしゃいましたら、ご案内いただけますと幸いです。
 皆様のご参加をお待ち申し上げます。

*1:自動車の在り方や概念を変える革新的なプランとして、現在自動車産業の新たなうねりの代名詞として取り扱われつつある。
 九州産業大学
 理工学部 電気工学科
 教授 村上 英一 様

【専攻分野】電子デバイス・電子機器、 電子・電気材料工学、 電力工学・電力変換・電気機器
【研究テーマ】SiC-MOSFETの信頼性とパワー回路応用に関する研究
ルネサス時代、半導体材料・デバイスの研究開発をご担当。独自フラッシュメモリを混載した自動車用マイコンのプロジェクトでは、世界No.1に貢献。このご経験をもとに、現在、省エネに期待されるSiC(炭化ケイ素)トランジスタを電気自動車や再生可能エネルギー分野で実用化するための信頼性やデバイスモデルの研究を進めている。九州には半導体や製造装置の工場が多くあり、学生の就職先としても興味を持ってもらえるような授業を心がけておられるそうです。
8月26日(月)
■ スケジュール■
14:45〜15:00 受付
15:00〜15:05 ご挨拶(高橋委員長)
15:05〜17:00 ご講演 (質疑応答を含む)

「車載向け半導体デバイス信頼性の基礎」
   九州産業大学 教授 村上 英一 様
17:00〜18:00 講師を囲む情報交換会(名刺交換会) 
                         参加者全員
                      *お飲み物を用意いたします。
■定員:45名 
■費用:無料
■会場:電設健保会館 
    4F 第一会議室
 千代田区二番町4−2 
 TEL:03-3265-0301
 ★JR中央線他「四ッ谷駅」「市ヶ谷駅」から徒歩8分
 東京メトロ有楽町線「麹町駅」 から徒歩1分 
  http://www.densetu.or.jp/member/info/access.html

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